半導体用ウェーハ圧関連

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半導体用ウェーハ圧関連

画圧分布測定システム HIGH SPEED I-SCAN

画圧分布測定システム
HIGH SPEED I-SCAN

※新製品
高速サンプリング・データロガ方式の最新システム。衝撃圧・成型プレス圧・ローラ圧・噴霧圧の面圧分布測定ができます。
面圧分布測定システム I-SCAN

面圧分布測定システム I-SCAN

今まで見ることができなかった圧力分布を、超薄型センサシートでリアルタイムに測定
カスタムについて

カスタムについて

センサーシートは、お客様のニーズに合わせて様々な形状にカスタム対応が可能です。
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